局部放電（PD）測試作為評估高壓電氣設(shè)備絕緣系統(tǒng)健康狀態(tài)的核心手段，在保障現(xiàn)代電力電子設(shè)備可靠性方面發(fā)揮著不可替代的作用。其核心價值在于提前發(fā)現(xiàn)微觀絕緣缺陷、預防突發(fā)性擊穿故障、量化評估設(shè)備壽命。

關(guān)鍵測試領(lǐng)域深度分析

1. IGBT模塊 (能源轉(zhuǎn)換核心器件)

應(yīng)用場景： 電動汽車（800V+高壓平臺）、軌道交通牽引變流器、風力/光伏發(fā)電變流器、工業(yè)變頻器、大功率UPS。

關(guān)鍵失效機理：

制造缺陷： 陶瓷基板/硅凝膠內(nèi)氣泡、裂紋、雜質(zhì)導致電場畸變。

封裝老化： 溫度循環(huán)、機械振動引發(fā)的分層、界面劣化。

動態(tài)應(yīng)力： 高頻開關(guān)下陡峭的dv/dt加劇局部放電風險。

PD測試核心目標：

精準定位內(nèi)部絕緣缺陷（基板、凝膠、界面），預防早期擊穿。

驗證高壓（數(shù)千伏）及動態(tài)開關(guān)工況下的長期絕緣可靠性。

預測模塊壽命，滿足IEC 61287、IEC 60076等嚴苛標準，避免批量風險。

應(yīng)對SiC-IGBT等高功率密度器件帶來的更強電場挑戰(zhàn)。

2. 電子變壓器 (新能源與電力電子關(guān)鍵組件)

應(yīng)用場景： 光伏逆變器輔助電源、高頻開關(guān)電源（工業(yè)/醫(yī)療）、新能源并網(wǎng)設(shè)備。

關(guān)鍵失效機理：

工藝損傷： 漆包線纏繞時絕緣層劃傷、折角應(yīng)力破壞。

材料短板： 不同材質(zhì)漆包線（聚酯、聚酯亞胺、聚酰胺酰亞胺）耐電暈性差異大，劣化產(chǎn)熱。

環(huán)境劣化： 溫濕度循環(huán)導致絕緣材料開裂、分層。

PD測試核心目標：

評估變壓器在高頻、復雜工況下的絕緣壽命與可靠性。

確保符合IEC 60270 (GB/T 7354)、IEEE 436等核心標準。

識別制造工藝缺陷（繞線損傷）和材料選型問題（耐電暈性不足），提升產(chǎn)品良率。

3. 電機定子及漆包線 (電動化核心動力部件)

應(yīng)用場景： 新能源汽車驅(qū)動電機、工業(yè)自動化伺服電機、高效節(jié)能電機。

關(guān)鍵失效機理：

材料不均： 漆膜厚度波動導致局部電場集中。

電暈侵蝕： 不同耐電暈等級漆包線在高壓下老化速率差異顯著。

環(huán)境老化： 溫濕度、振動加速絕緣劣化，形成放電通道。

PD測試核心目標：

作為高壓電機（尤其電動車驅(qū)動電機）絕緣系統(tǒng)可靠性的核心評判依據(jù)。

滿足IEC 60034-18-42等電機專用絕緣評估標準要求。

實現(xiàn)漆包線批次質(zhì)量篩選和定子制造工藝優(yōu)化（如浸漆工藝），提升電機壽命。

4. 光耦合器 (高壓安全隔離關(guān)鍵元件)

應(yīng)用場景： 電動汽車BMS/充電樁、智能電網(wǎng)設(shè)備、工業(yè)控制隔離接口、醫(yī)療設(shè)備安全柵。

關(guān)鍵失效機理：

材料缺陷： 硅膠/聚酰亞胺內(nèi)部氣泡、雜質(zhì)引發(fā)電場集中。

封裝風險： 填充不完整、微小氣隙（空氣光耦）形成放電點。

絕緣退化： 長期環(huán)境應(yīng)力導致材料開裂、分層，喪失隔離能力。

PD測試核心目標：

預防隔離失效： 檢測絕緣缺陷，杜絕高壓竄入低壓側(cè)的安全事故。

驗證絕緣結(jié)構(gòu)設(shè)計（爬電距離、電氣間隙）和封裝工藝可靠性。

確保符合光耦隔離安全標準IEC 60747-5-5。

為高可靠性應(yīng)用（汽車、電網(wǎng)）提供關(guān)鍵元件準入篩選依據(jù)。

局部放電測試的價值總結(jié)

1. 缺陷早期預警： 在絕緣劣化初始階段（肉眼不可見）精準定位氣泡、裂紋、雜質(zhì)、分層等微觀缺陷。

2. 可靠性量化評估： 超越傳統(tǒng)通斷測試，通過PD量值（pC）預測設(shè)備剩余壽命。

3. 嚴苛工況驗證： 評估器件在額定高壓、過壓、高頻開關(guān)、溫度循環(huán)等動態(tài)應(yīng)力下的絕緣穩(wěn)定性。

4. 全生命周期管控：

研發(fā)設(shè)計： 優(yōu)化材料選型、絕緣結(jié)構(gòu)（如爬電距離）、封裝工藝。

生產(chǎn)制造： 100%在線或抽樣測試，進行工藝監(jiān)控和缺陷品剔除。

質(zhì)量認證： 滿足UL、IEC、IEEE、GB等國際國內(nèi)強制/準強制標準。

結(jié)論

長盛CS19011A/B局部放電安規(guī)綜合測試儀器是現(xiàn)代高可靠電力電子與電氣裝備不能缺少的“絕緣醫(yī)生"。其在IGBT、電子變壓器、電機、光耦等核心領(lǐng)域的深度應(yīng)用，是保障新能源汽車、可再生能源、智能電網(wǎng)、工業(yè)自動化等關(guān)鍵產(chǎn)業(yè)安全高效運行的技術(shù)基石。隨著電壓等級提升、功率密度增大和應(yīng)用環(huán)境惡化，PD測試的重要性將愈發(fā)凸顯，并持續(xù)向更高靈敏度、更強抗干擾、更智能診斷的方向演進。

適用標準

??本系列儀器符合測試適用標準

符合IEC60270（GB/T7354）、IEC 60747-15、IEC1287標準的要求。

特別性能

??長盛CS19011A/B局部放電安規(guī)綜合測試儀器的特點

1.實時的Q/V、Q/t趨勢圖：可觀測實時升降壓及測試過程中的局部放電變化趨勢；

2.精準的小信號測量：可測量1pC的電量，分辨率0.1pC。細微之處，盡顯眼底

3.HVCC檢測功能：避免塑封過程及測試夾具因素導致的接觸誤判；

4.適用性廣：可適用于光隔離器、IGBT、電子變壓器、高壓繼電器、定子、線材及絕緣材料的測試；

5.測試設(shè)置靈活：可根據(jù)測試模式，自由設(shè)置測試步驟、參數(shù)，適用不同標準測試要求；

6.實時、細致的服務(wù)：及時針對客戶現(xiàn)場出現(xiàn)的測試及自動化配套問題，提供復雜環(huán)境下的測試解決方案。

測試Q-V、Q-t趨勢圖

Q-V趨勢圖：橫坐標：測試電壓，單位kV；縱坐標：放電量，單位pC，黑線：電壓上升過程的放電曲線；紅線：電壓下降過程中的放電曲線）

Q-t趨勢圖：橫坐標：測試時間，單位s；縱坐標：放電量，單位pC。

選型導航

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