CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺

簡要描述：CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動；

可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用

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詳細介紹

品牌	其他品牌	應用領域	地礦,能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺特點 / 應用

滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.

大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試

同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，線性移動

兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動

可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺

臺體規(guī)格：

尺寸	4英寸/6英寸/8英寸
水平旋轉(zhuǎn)	可360度旋轉(zhuǎn)，可微調(diào)15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置
X-Y移動行程	4英寸4英寸/6英寸6英寸
X-Y移動精度	10微米/1微米
樣品臺Z軸調(diào)節(jié)	可升降10mm
樣品固定	真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán)
針座平臺	U型針座平臺，多可放置6個探針座
背電極測試	樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極
外形尺寸	400mm長400mm寬600mm高/580mm長480mm寬600mm高
重量	約40千克/60千克

光學系統(tǒng)：

探針座

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