服務內容

高加速壽命試驗（HALT/HASS）測試流程

一、樣品信息背景調查，試驗前應對樣品進行充分的分析,評估可能發(fā)生失效或故障的元部件、連接措施、焊接工藝等。宜提前準備替代或修復措施。

二、試驗前確保被試品的安裝要求

a) 確保熱電偶（控制熱電偶）被正確的安裝在測試樣本上，以便于提供參考給試驗箱溫度設置調整點。產品的熱電偶必須放置在測試單元的外表面，最好放在低熱量聚集的地方。這些熱電偶不應該放置在產生熱量的器件附近或者產品密封部分的內部。產品的響應熱電偶應當被安裝在能夠充分評估樣本在溫度環(huán)境下響應的位置。建議安裝位置包括產生主要熱量的器件、溫敏器件。

b) 確保安裝在振動臺的測試樣本使用了合適的樣本夾具，從而能夠使得測試樣本獲得最大的溫度和振動應力。產品響應加速計應該被安裝在能夠充分評估產品對輸出振動響應的位置。建議安裝位置：靠近固定硬件、最大的反饋點（PCB 中央）或者疑似的薄弱位置。

三、高加速壽命試驗（HALT/HASS）具體試驗項目：

a) 溫度步進試驗，包括：低溫步進應力試驗和高溫步進應力試驗；

b) 快速溫度變化試驗；

c) 振動步進試驗；

d) 綜合環(huán)境應力試驗；

e) 回歸驗證。

服務范圍

本測試適用于電工電子產品及其電子部件、印制電路板組件等。對于大型整機,宜優(yōu)先考慮在前端的裝配級別(如印制電路板組件、子模塊)上進行試驗。還適用于電工電子產品的研發(fā)、設計和(或)試產階段,也可用于批量生產階段。

檢測標準

GB/T 34986—2017/IEC62506:2013 產品加速試驗方法 GB/T 29309-2012 電工電子產品加速應力試驗規(guī)程高加速壽命試驗導則 4、檢測項目 電工電子產品及其電子部件、印制電路板組件等產品各研制高加速試驗（HALT/HASS）試驗。

相關資質

CNAS

測試周期

1周~2周

服務背景

為什么要做此測試？

1、快速發(fā)現(xiàn)設計及程序的限制因素

2、評估和改良產品設計極限

3、找到統(tǒng)計特色的信息

4、減少研發(fā)時間及成本

5、正式量產前即消除設計上的問題

5、作為工程工具作為評估改變對產品造成的影響

我們的優(yōu)勢

廣電計量經過在軌道交通檢測數(shù)年積累，形成了博士8人、碩士59人的專業(yè)人才團隊，各方面研究方向同步業(yè)內研究進展，研究設備為（Qualmark公司的Typhoon 4.0 inferno型設備）。