服務(wù)范圍

集成電路工程化量產(chǎn)測試,元器件失效分析：集成電路：微處理器、控制器、可編程邏輯器件、存儲器系列、總線接?系列、射頻器件、放大器、AD/DA，驅(qū)動芯片、監(jiān)控芯片、電源類芯片等

檢測標(biāo)準(zhǔn)

● GJB 597B-2012半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范

●GJB 2438A-2002混合集成電路通用規(guī)范

● GJB 548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序

● GJB 7400-2011合格制造廠認(rèn)證用半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范

● 行業(yè)規(guī)范：MIL、IEEE、JEDEC等

● 客制標(biāo)準(zhǔn)：產(chǎn)品?冊、詳細(xì)規(guī)范、測試方案

檢測項(xiàng)目

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

集成電路工程化量產(chǎn)測試,元器件失效分析：集成電路測試卡位產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)，貫穿設(shè)計、制造、封裝測試以及應(yīng)用的全過程。測試在保證芯片質(zhì)量，產(chǎn)品交付、項(xiàng)目驗(yàn)收及推向應(yīng)?具有重要作?。而芯片設(shè)計多樣化和定制化，對測試人才和技術(shù)經(jīng)驗(yàn)要求明顯提升，如何實(shí)現(xiàn)快速?程化和量產(chǎn)將?臨極?挑戰(zhàn)。

我們的優(yōu)勢

廣電計量擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富的IC測試技術(shù)開發(fā)團(tuán)隊(duì)，可提供各類芯片的測試方案開發(fā)、測試硬件開發(fā)、測試程序開發(fā)與調(diào)試，小批量測試、應(yīng)?驗(yàn)證。從?程化到量產(chǎn)的全流程專業(yè)定制化的?站式服務(wù)。